నిధుల సేకరణ 15 సెప్టెంబర్ 2024 – 1 అక్టోబర్ 2024
నిధులసేకరణ గురించి
పుస్తకాల శోధన
పుస్తకాలు
నిధుల సేకరణ:
57.9% శాతం సేకరింపబడింది
సైన్ ఇన్ చేయండి
సైన్ ఇన్ చేయండి
మరిన్ని ఫీచర్లను యాక్సెస్ చేయడానికి
వ్యక్తిగత సిఫార్సులు
Telegram బాట్
డౌన్లోడ్ చరిత్ర
ఇమెయిల్ లేదా Kindle కు పంపండి
పుస్తకాల జాబితాలను నిర్వహించండి
ఇష్టమైన వాటికి సేవ్ చేయండి
వ్యక్తిగతమైన
పుస్తక అభ్యర్థనలు
అన్వేషించండి
Z-సిఫార్సు చేయండి
పుస్తక సేకరణలు
అత్యంత ప్రజాదరణమైనవి
వర్గాలు
సహకారం
మాకు మద్దతు ఇవ్వాలనుకుంటే
అప్లోడ్లు
Litera Library
కాగితపు పుస్తకాలను విరాళంగా ఇవ్వండి
కాగితపు పుస్తకాలను జోడించండి
Search paper books
నా LITERA Point
కీలక పదాల శోధన
Main
కీలక పదాల శోధన
search
1
Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications
Springer Netherlands
Jacopo Franco
,
Ben Kaczer
,
Guido Groeseneken (auth.)
nbti
devices
stress
gate
device
reliability
bias
oxide
observed
degradation
temperature
relaxation
reduced
voltage
current
δvth
thickness
defects
dvth
measured
impact
vth0
experimental
pmosfets
chc
shown
instability
vth
drain
technology
mobility
scaling
measurement
negative
carrier
charged
sect
proceedings
reduction
nanoscale
discussed
eox
cmos
dependence
technique
eot
dielectric
electron
proposed
stack
సంవత్సరం:
2014
భాష:
english
ఫైల్:
PDF, 10.04 MB
మీ ట్యాగ్లు:
0
/
0
english, 2014
2
Полупроводниковая силовая электроника
Издательство "Техносфера"
Белоус А.И.
,
Ефименко С.А.
,
Турцевич А.С.
рис
напряжения
микросхемы
управления
имс
электроники
силовой
питания
тока
схема
транзистора
напряжение
микросхем
системы
параметров
ток
технологии
mosfet
схемы
моп
прибора
приборов
типа
проектирования
лампы
интегральные
транзистор
igbt
анализа
транзисторов
стабилизатора
мощности
основе
а.с
выходного
кристалла
uвых
изготовления
области
базы
шим
температуры
турцевич
источников
стабилизаторов
применения
силовые
статистического
характеристики
энергии
సంవత్సరం:
2013
భాష:
russian
ఫైల్:
PDF, 26.47 MB
మీ ట్యాగ్లు:
0
/
0
russian, 2013
3
PrimeSim™ MOSRA™ User Guide: Version R-2020.12-SP1, April 2021
Synopsys
,
Inc
mosra
option
primesim
aging
simulation
stress
degradation
parameters
parameter
guide
feedback
sp1
analysis
function
device
simmode
output
reliability
custom
models
0.1u
mosfet
options
mra
appendmodel
radeg
defined
input
simulator
command
nmos
supported
struct
circuit
commands
pmos
10u
bti
hci
degradations
pointer
reltotaltime
specified
vth0
radegfile
version
int32_t
examples
p1_ra
syntax
సంవత్సరం:
2021
భాష:
english
ఫైల్:
PDF, 1.34 MB
మీ ట్యాగ్లు:
0
/
5.0
english, 2021
1
ఈ లింక్
ని అనుసరించండి లేదా టెలిగ్రామ్లో "@BotFather" బాట్ను కనుగొనండి
2
/ newbot ఆదేశాన్ని పంపండి
3
మీ చాట్బాట్ కోసం పేరును పేర్కొనండి
4
బాట్ కోసం వినియోగదారు పేరును ఎంచుకోండి
5
BotFather నుండి పూర్తి చివరి సందేశాన్ని కాపీ చేసి ఇక్కడ అతికించండి
×
×